HAST半導體芯片HAST測試試驗箱

絕緣電阻劣化評估系統試驗箱是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固 定的直流電壓，經過長時間的測試(1～1000小時)并觀察線路是否有瞬間短 路的現象發生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試 驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗，可進行BHAST 試驗。在高溫高濕條件 下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率 的絕緣可靠性評估。

HAST半導體芯片HAST測試試驗箱

絕緣電阻劣化評估系統試驗箱特點

· 高機能：采用驅動計測， 測試時焊接工序大幅減少

·軟件設計簡單明了，直觀易操 作

·遠程監控功能，可監控試驗過 程。

· 便利性高：構造裝著脫落式、 易進行保養交換。可同時試驗停 止等聯動裝置功能，系統構成靈 活。

· 測試自檢功能：點檢、校正方 便。

·設計精巧，不受場所限制，易 移動。

· 可靠性高：配有CF卡，以防設 備故障數據丟失。以UPS作為系 統的支撐，保證試驗的安全繼續 進行。

偏壓老化測試 BHAST試驗箱

應用

PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等， GBA、DSP等 ，IC封裝、電容器、連接器 等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。